當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 薄膜制備全套設(shè)備 > 磁控濺射鍍膜設(shè)備 > 膜厚監(jiān)測(cè)儀--EQ-TM106
簡(jiǎn)要描述:EQ-TM106膜厚監(jiān)測(cè)儀是采用石英晶體振蕩原理,結(jié)合先進(jìn)的頻率測(cè)量技術(shù),進(jìn)行膜厚的在線監(jiān)測(cè)。主要應(yīng)用于MBE、OLED熱蒸發(fā)、磁控濺射等設(shè)備的薄膜制備過程中,對(duì)膜層厚度及鍍膜速率進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。根據(jù)實(shí)時(shí)速率可以輸出PWM模擬量,作為膜厚傳感器使用,與調(diào)節(jié)儀和蒸發(fā)電源配合實(shí)現(xiàn)蒸發(fā)源的閉環(huán)速率控制。
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技術(shù)參數(shù)
主要特點(diǎn) |
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EQ-TM106-1監(jiān)測(cè)組件
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EQ-TM106-2顯示儀
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EQ-TM106-3探頭
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標(biāo)準(zhǔn)配件 |
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質(zhì)保期 | 一年質(zhì)保期,終身維護(hù) |
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